信息技术的快速发展对电子电路与信息系统的软硬件测试技术和容错能力提出了新的要求。为了促进我国测试与容错技术领域的学术交流，中国计算机学会容错计算专业委员会决定于2020年8月20日在西安召开第十一届中国计算机学会中国测试学术会议（CCF CTC2020）。
会议将通过高质量的前沿技术报告、学术报告、专题讨论等形式，就测试与容错技术等领域的最新研究进展和发展趋势开展广泛、深入的学术交流。欢迎从事测试、容错、可信、硬件安全、集成电路设计自动化及相关领域研究工作的产学研各界专家、学者以及学生代表踊跃投稿与参会。
